Szybka Analiza w Ruchu
Wszechstronna i Efektywna Analiza dla Różnych Scenariuszy
Przenośny analizator NIR IAS-3120, z zaawansowaną technologią spektroskopii cyfrowej, wykazuje wyjątkową czułość i precyzję w kompaktowej, zintegrowanej konstrukcji, zapewniając konsekwentnie wysoką jakość szybkich wyników testów.
Potężna funkcjonalność i łatwość obsługi IAS-3120 pozwalają skupić się na ważniejszych zadaniach, zamiast tracić czas na konserwację urządzenia. Niezależnie od etapu surowca czy gotowego produktu, w laboratorium czy na miejscu produkcji, można szybko uzyskać wiarygodne wyniki. Dzięki danym w czasie rzeczywistym, można podjąć szybkie działania, aby uniknąć kosztownych przeróbek i błędów, oszczędzając tym samym cenne zasoby.
Kompaktowy i przenośny
Jego kompaktowa i przenośna konstrukcja jest dostosowana do różnych sytuacji.
Precyzyjne, szybkie testowanie
Wyposażony w samodzielnie opracowany wysokowydajny system detekcji MEMS NIR i szybki algorytm skanowania, instrument szybko i dokładnie pozyskuje widma.
Prosta obsługa
Testowanie nie wymaga wstępnego przygotowania ani odczynników chemicznych. Jedno naciśnięcie przycisku 'Start' zwraca analizę wielu parametrów w krótkim czasie.
Oświetlenie dużym obszarem
Instrument oświetla i zbiera informacje z dużych obszarów próbki, poprawiając dokładność analizy.
Wiele opcji rozmiarów dla komórek próbek
Dostępny jest szereg komórek próbek, aby dopasować je do różnych próbek w zależności od ich ilości i stanów.
Specyfikacja |
Opis |
Specyfikacja |
Opis |
Zakres długości fali |
950-1650nm |
Wymiary |
265mm x 340.5mm x 262.3mm |
Rozdzielczość |
12nm |
Waga |
9kg |
Zasada spektroskopii |
Array MEMS Micromirror + Grating |
Wyświetlacz |
7-calowy ekran dotykowy |
Detektor |
Detektor InGaAs |
Temperatura pracy |
5-45°C |
Szum podstawowy |
≤0.0005AU |
Wilgotność pracy |
<RH75% |
Powtarzalność długości fali |
≤0.05nm |
Temperatura przechowywania |
-20-60°C |
Dokładność długości fali |
≤2nm |
Źródło światła |
Halogen-Tungsten Lamp |
Powtarzalność absorbancji |
≤0.0005AU |
Zasilanie |
24V/3A |
Czas testowania |
≤1min |
Pobór mocy |
25W |
Interwał danych |
1nm |
Zintegrowany system operacyjny w urządzeniu |
Linux |